探傷條件探傷儀：USM35型（現(xiàn)場），VSIP-12型（實(shí)驗(yàn)室）探頭：B2S-N、B4S-N（á24）頻率：2MHz、4MHz方法：縱波探傷法靈敏度：á2平底孔定量方法：大平底法掃查方向及范圍：360°徑向掃查耦合劑：機(jī)油,實(shí)驗(yàn)材料實(shí)驗(yàn)材料為20Cr2Ni4棒料，其化學(xué)成分的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（）為：C0.2，Si0.22，Mn0.5，Cr1.5，Ni3.4。對爐號61311、錠節(jié)號1-2、1-5的坯料進(jìn)行了無損探傷。
缺陷分析超聲波檢測結(jié)果如下：缺陷分布：圓棒坯料的兩端無缺陷。缺陷在距軸線的1/5處分布。用2MHz、4MHz的探頭分別進(jìn)行探測，無明顯變化。缺陷信號的反射：錠節(jié)號1-5缺陷信號反映強(qiáng)烈，局部底波下降，缺陷信號高于底波。錠節(jié)號1-2缺陷反射信號不特別強(qiáng)烈，有角度關(guān)系，不易探測。將粗調(diào)旋鈕板到底檔，移動探頭單獨(dú)觀察，缺陷信號有迅速變化，要么消失，要么出現(xiàn)，信號間無聯(lián)系，而且缺陷的對應(yīng)性良好。缺陷有一定的深度范圍，屬密集性缺陷。此缺陷有“白點(diǎn)”缺陷的波形特征�！ 墓�(jié)號1-5上取樣做斷口，打兩次斷口，從試片上看心部有不同徑向的白點(diǎn)。橢圓形長軸6～10mm。從節(jié)號1-2上取樣做低倍，結(jié)果為白點(diǎn)。白點(diǎn)產(chǎn)生原因及擴(kuò)氫工藝改進(jìn)4.1白點(diǎn)產(chǎn)生原因白點(diǎn)是鍛件中不允許存在的內(nèi)部缺陷，其形狀為不同長度，平行流線方向的顯微裂紋。白點(diǎn)產(chǎn)生的主要原因是鋼的內(nèi)部含有過量的氫，另一個(gè)原因是應(yīng)力的存在。氫進(jìn)入鋼中的原因有：由爐料帶入或因鋼包、鋼錠模烘干不夠、再有就是材料未經(jīng)過真空冶煉。由于鋼錠內(nèi)部疏松，即使鋼錠中含有較多的氫（0.0005～0.0007）也不會出現(xiàn)白點(diǎn)現(xiàn)象。但經(jīng)鍛造后如不進(jìn)行及時(shí)的擴(kuò)氫，鍛件中就會出現(xiàn)白點(diǎn)。
工藝改進(jìn)改進(jìn)前，我們采用如所示的工藝；改進(jìn)后采用的是如所示的工藝。改進(jìn)的工藝主要有以下特點(diǎn)為：降低了低溫保溫溫度。由于20Cr2Ni4鋼中Ni含量高，Ni可以擴(kuò)大奧氏體區(qū)，鍛件內(nèi)部殘余的奧氏體多，加之氫在奧氏體中溶解度高，所以在擴(kuò)氫前必須使奧氏體分解。故將低溫保溫溫度調(diào)整為250～270℃。適當(dāng)增加擴(kuò)氫保溫時(shí)間。即1h/10mm變?yōu)?.5h/10mm.20Cr2Ni4鋼屬白點(diǎn)敏感性較高的鋼種，有增加擴(kuò)氫時(shí)間的必要。降低冷卻速度。即由650～400℃的空冷變?yōu)?le;30℃/h降溫，減少了鍛件應(yīng)力。通過改進(jìn)工藝，使探傷合格率由原來的91提高到了98�！ �
